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試驗箱GBT2423標準的組成部分(上節)
2016-07-22 08:54    來源:www.huabo-china.com 作者:AG亞遊下載   瀏覽次數:

  

  GB/T 2423標準是試驗箱業內*通行的一種,GB意指中國人民共和國國家標準,GB/T 2423意指電子電工行業標準,以下為試驗箱GBT2423標準的組成部分

  GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-2:2007,IDT)

  GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-2:2007,IDT)

  GB/T 2423.3-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗(IEC60068-2-78:2001,IDT)

  GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db 交變濕熱(12H+12循環)(IEC60068-2-30:2005,IDT)

  GB/T 2423.5-2008 電工電子產品環境試驗 第二部分:試驗方法 試驗Ea和導則:衝擊

  GB/T 2423.6-2008 電工電子產品環境試驗 第二部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞

  GB/T 2423.7-1995 電工電子產品環境試驗 第二部分:試驗方法 試驗Ec和導則:傾跌與翻倒(主要用於設備型樣品)

  GB/T 2423.8-1995 電工電子產品環境試驗 第二部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落

  GB/T 2423.10-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc:振動(正弦)

  GB/T 2423.15-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ga和導則:穩態加速度

  GB/T 2423.16-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J和導則:長黴

  GB/T 2423.17-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗Kb:鹽霧

  GB/T 2423.18-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗Kb:鹽霧,交變(氯化納溶液)

  GB/T 2423.22-2002 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗N:溫度變化

  GB/T 2423.23-1995 電工電子產品環境試驗 試驗Q:密封

  GB/T 2423.24-1995 電工電子產品環境試驗 第二部分 試驗Sa:模擬地麵上的太陽輻射

  GB/T 2423.25-2008 電工電子產品環境試驗 第二部分 試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗

  GB/T 2423.26-2008 電工電子產品環境試驗 第二部分 試驗方法 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗

  GB/T 2423.27-2008 電工電子產品環境試驗 第二部分 試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗

  GB/T 2423.28-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法 試驗T:錫焊

  GB/T 2423.30-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法 試驗XA和導則:在清洗劑中浸漬

  GB/T 2423.31-1985 電工電子產品環境試驗規程 傾斜和搖擺試驗方法

  GB/T 2423.32-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ta:潤濕稱量法可焊性

  GB/T 2423.33-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗

  GB/T 2423.34-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度驗合循環試驗

  GB/T 2423.35-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗

  GB/T 2423.36-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗

  GB/T 2423.37-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L:沙塵試驗

  GB/T 2423.38-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗R:水試驗方法和導則

  GB/T 2423.39-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ee:彈跳

  GB/T 2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

  GB/T 2423.41-1994 電工電子產品基本環境試驗規程 風壓試驗方法

  GB/T 2423.42-1995 電工電子產品環境試驗 低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法

  GB/T 2423.43-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 振動、衝擊和類似動力學試驗樣品的安裝

  GB/T 2423.45-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABDM:氣候順序

  GB/T 2423.45-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fg:聲振

  GB/T 2423.48-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ff:振動-時間曆程法

  GB/T 2423.49-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fe:振動-正弦拍頻法

  GB/T 2423.50-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用於元件的加速試驗

  GB/T 2423.51-2000 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ke:流動混合氣候腐蝕試驗

  GB/T 2423.52-2003 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗77:結構強度與撞擊

  GB/T 2423.53-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗XB:由手的摩擦造成標記和印刷文字的磨損

  GB/T 2423.54-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Xc:液體汙染

  GB/T 2423.55-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eh:錘擊試驗

  GB/T 2423.56-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fh:寬帶隨機振動(數字控製)和導則

  GB/T 2423.57-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ei:衝擊 衝擊響應譜合成

  GB/T 2423.101-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 傾斜和搖擺

  GB/T 2423.102-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合



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